超粗针尖设计：曲率半径1000nm以上

材料为氧化锆单晶钨

适用于各种钨灯丝扫描电子显微镜（SEM）

用于半导体量检测设备

采用高纯镓

可定制孔径

用于 FIB 的自动可变孔径光阑条

有多种规格型号

有多种规格型号

有多种规格型号

Pole piece

用于聚焦离子束系统T制样提取样品

FIB出现打火问题的原因及解决方案：Plasma clean 通过高压射频电源产生等离子体，剥离部件表面污染物，安全有效，无需更换昂贵部件，大幅节约时间、降低成本。

适配多种离子枪型号

适配多种离子枪型号

适配主流CT设备

兼容日立主流冷场机型

适用于各种扫描电子显微镜（SEM）